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Digital Noise Monitoring of Defect Origin

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Livre Livre relié
Livre Digital Noise Monitoring of Defect Origin Telman Aliev
Code Libristo: 01382491
Éditeurs Springer-Verlag New York Inc., juillet 2007
Digital Noise Monitoring of Defect Origin is for both academics and professionals in the fields of e... Description détaillée
? points 317 b
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Digital Noise Monitoring of Defect Origin is for both academics and professionals in the fields of engineering, biological sciences, physical science, and automation with particular emphasis on power engineering, oil-and-gas extraction, and aviation among others. The focus of the book is on determining defect origins. The author divides the process into the stages of monitoring the defect origin, identification of the defect and its stages, and control of the defect. The significance of this work is also connected to the possibility of using the noise as a data carrier for creating technologies that detect the initial stage of changes in objects.

À propos du livre

Nom complet Digital Noise Monitoring of Defect Origin
Auteur Telman Aliev
Langue Anglais
Reliure Livre - Livre relié
Date de parution 2007
Nombre de pages 224
EAN 9780387717531
ISBN 0387717536
Code Libristo 01382491
Éditeurs Springer-Verlag New York Inc.
Poids 1120
Dimensions 155 x 235 x 14

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