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CTL for Test Information of Digital ICs

Langue AnglaisAnglais
Livre Livre de poche
Livre CTL for Test Information of Digital ICs Rohit Kapur
Code Libristo: 02181748
Éditeurs Springer-Verlag New York Inc., avril 2013
From the reviews: "[ ] a welcome addition to the literature. [ ] This book promises to make a valuab... Description détaillée
? points 317 b
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From the reviews: "[ ] a welcome addition to the literature. [ ] This book promises to make a valuable contribution to the education of graduate students in electrical and computer engineering, and a very useful addition to the library of the maturer investigator in SoC designs or related fields." Microelectronics Reliability§

À propos du livre

Nom complet CTL for Test Information of Digital ICs
Auteur Rohit Kapur
Langue Anglais
Reliure Livre - Livre de poche
Date de parution 2013
Nombre de pages 173
EAN 9781475778007
ISBN 1475778007
Code Libristo 02181748
Éditeurs Springer-Verlag New York Inc.
Poids 296
Dimensions 155 x 10 x 11

Catégories

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