[email protected]
LIBRISTO 0
La Poste Autrichienne 5.99 € Coursier DPD 6.49 € Service de messagerie GLS 4.49 €
phone Contact phoneComment faire ses achats

CMOS Gate-Stack Scaling - Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155

Langue AnglaisAnglais
Livre Livre de poche
Livre CMOS Gate-Stack Scaling - Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155 Alexander A. Demkov
Code Libristo: 02439020
Éditeurs Cambridge University Press, juin 2014
To address the increasing demands of device scaling, new materials are being introduced into convent... Description détaillée
? points 96 b
40.45 € včetně DPH
Stockage externe Expédition sous 19-25 jours
Autriche common.delivery_to

Politique de retour sous 30 jours

Ceci pourrait également vous intéresser

Handbook of Global Agricultural Markets Luc Nijs / Livre relié
common.buy 134.22 €
Red Lily - Complete Anatole France / Livre de poche
common.buy 33.81 €
Séminaire de Probabilités X P.-A. Meyer / Livre de poche
common.buy 72.89 €
Creative Thinking Ages 6-8 Ann Baker / Livre de poche
common.buy 23.97 €
Die Arterio-Ven sen Anastomosen Max Clara / Livre de poche
common.buy 58.86 €
Albert Hall Lenore Coltheart / Livre de poche
common.buy 47.84 €
Century 21 Chris Bentley / Livre relié
common.buy 30.50 €
Last Cowboys John Branch / Livre relié
common.buy 26.00 €
Analysis and Modeling of Faces and Gestures S. Kevin Zhou / Livre de poche
common.buy 68.07 €
Advanced Intelligent Computing Theories and Applications De-Shuang Huang / Livre de poche
common.buy 136.47 €
Heresy and Obedience in Tridentine Italy Dermot Fenlon / Livre de poche
common.buy 60.36 €
Controversies in Innocence Cases in America Sarah Lucy Cooper / Livre relié
common.buy 209.15 €
Blauwassersegeln Manual Barry Pickthall / Livre relié
common.buy 21.35 €
Homeward Bound Or, the Chase James Fenimore Cooper / Livre de poche
common.buy 46.55 €
Maintaining Health Formerly Health and Efficiency R. L. Alsaker / Livre de poche
common.buy 46.55 €
Auf Der Suche Nach Der Bilanzwahrheit Carl Zimmerer / Livre de poche
common.buy 58.86 €

To address the increasing demands of device scaling, new materials are being introduced into conventional Si CMOS processing at an unprecedented rate. Presentations collected here focus on understanding, from a chemistry and materials perspective, the mechanism of interface formation and defects at interfaces, for both conventional Si and alternative channel (Ge or III-V) systems. Several papers address reliability concerns for high-k/metal gate (basic physical models, charge trapping, etc.), while others cover characterization of the thin films and interfaces which comprise the gate stack. Topics include: advanced Si-based gate stacks; and alternate channel materials.

À propos du livre

Nom complet CMOS Gate-Stack Scaling - Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155
Auteur Alexander A. Demkov, Bill Taylor, H. Rusty Harris, Jeffery W. Butterbaugh
Langue Anglais
Reliure Livre - Livre de poche
Date de parution 2014
Nombre de pages 194
EAN 9781107408326
ISBN 1107408326
Code Libristo 02439020
Éditeurs Cambridge University Press
Poids 27
Dimensions 152 x 229 x 10

Catégories

Technologie, ingénierie et agriculture, procédés industriels > Génie mécanique et matériels > Productique et génie industriel > Contrôle de la qualité industrielle
Technologie, ingénierie et agriculture, procédés industriels > Génie mécanique et matériels > Science des matériaux
Offrez ce livre dès aujourd'hui
C’est simple
1 Ajouter au panier et choisir l'option Livrer comme cadeau à la caisse. 2 Nous vous enverrons un bon d'achat 3 Le livre arrivera à l'adresse du destinataire

Connexion

Connectez-vous à votre compte. Vous n'avez pas encore de compte Libristo ? Créez-en un maintenant !

 
Obligatoire
Obligatoire
Mot de passe oublié

Vous n'avez pas encore de compte ? Découvrez les avantages d’avoir un compte Libristo !

Avec un compte Libristo, vous aurez tout sous contrôle.

Créer un compte Libristo