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Atomic Scale Characterization and First-Principles Studies of Si3N4 Interfaces

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Livre Livre de poche
Livre Atomic Scale Characterization and First-Principles Studies of Si3N4 Interfaces Weronika Walkosz
Code Libristo: 01427604
Éditeurs Springer-Verlag New York Inc., mai 2013
This book offers results that influence many high temperature and pressure applications. It provides...
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This book offers results that influence many high temperature and pressure applications. It provides findings that will offer increased control over the performance of ceramic and semiconductor materials for a wide-range of applications.

À propos du livre

Nom complet Atomic Scale Characterization and First-Principles Studies of Si3N4 Interfaces
Auteur Weronika Walkosz
Langue Anglais
Reliure Livre - Livre de poche
Date de parution 2013
Nombre de pages 110
EAN 9781461428572
ISBN 1461428572
Code Libristo 01427604
Éditeurs Springer-Verlag New York Inc.
Poids 203
Dimensions 155 x 235 x 8

Catégories

Mathématiques et sciences > Chimie > Chimie analytique > Analyse de spectre, spectroscopie, spectrométrie de masse
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